仪器编号：200751014191
EDX3000D 在自动化和精度方面都得到了很大的提高
超大样品腔让我们测试电路板上众多的电子元器件成为可能
采用国际上先进的由美国生产的半导体制冷的最新型探测器，
电制冷，无需液氮制冷，可常温保存，使用方便。
同时这款探测器内置信噪比增强器，提高了仪器精度和检出下限，
金属的有害物质检出限比原有探测器高出近5倍。
技术指标：
Ø 测量元素:从硫至铀等 75 种元素
Ø 元素含量分析范围:1ppm-99.99%
Ø RoHS 指令规定的有害元素（限 Cd/Pb/Cr/Hg/Br)
Ø 测量时间: 60-200s
Ø 能量分辨率为： 155±5eV
Ø 测量精度: < 0.05%
Ø 高压：5-50kV
Ø 管流：50-1000uA
Ø 温度适应范围： 15-30℃
Ø 相对湿度：≤70％
Ø 仪器功率：≤90瓦
Ø 电源：交流 220±5V（建议配置交流净化稳压电源）
Ø 超大样品腔，尺寸Φ450×90mm
Ø 一次可同时分析24个元素
Ø 重量：110kg
特点：
Ø 移动样品平台，电机调控样品平台，最小位移0.01mm
Ø 信噪比增强器（SNE）,加强的金属元素感度分析器
Ø 自动切换准直器和滤光片，分别针对不同样品
Ø 内置高象素摄像头，方便用户随时观察
Ø 新增加电动开关的样品腔，操作安全，方便
本文由天瑞仪器提供