测厚仪镀层测厚仪


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	测厚仪EDX3000D EDX3000D	通过x荧光光谱分析法进行ROHS五项有害物质的检测;全元素分析（可进行75种元素分析Na－U）;镀层分析与测厚,最小检测镀层厚度为0．０５ｕ．另外本产品自动化程度和精度都得到了很大的提高。
	镀层测厚仪Thick 800 Thick 800	Thick 800 X荧光光谱仪主要针对大件部件的镀层厚度和含量的无损、快速测定，它不同于EDX600B的下照式和封闭样品腔的设计，而是采用上照式，通过三维的移动和激光定位，实现对尺寸范围较大部件进行镀层厚度和含量的点测量

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